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Hitachi haute technologie (Shanghai) Commerce international Co., Ltd
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Microscope électronique à transmission par émission de champ HF - 3300

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Vue d'ensemble

La célèbre source d'électrons à émission de champ froid d'Hitachi et la technologie de tension d'accélération de 300 kV se combinent pour créer des capacités d'imagerie ultra - haute résolution et d'analyse haute sensibilité. La technologie holographique biprisme, le spectre de perte d'énergie électronique résolu dans l'espace et la technologie de diffraction de faisceau nanoélectronique parallèle de haute précision ouvrent de nouvelles voies d'analyse d'échantillons hautement efficaces et de haute précision.

Détails du produit

Microscope électronique à transmission par émission de champ HF - 3300

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场发射透射电子显微镜 HF-3300

La célèbre source d'électrons à émission de champ froid d'Hitachi et la technologie de tension d'accélération de 300 kV se combinent pour créer des capacités d'imagerie ultra - haute résolution et d'analyse haute sensibilité. La technologie holographique biprisme, le spectre de perte d'énergie électronique résolu dans l'espace et la technologie de diffraction de faisceau nanoélectronique parallèle de haute précision ouvrent de nouvelles voies d'analyse d'échantillons hautement efficaces et de haute précision.

Caractéristiques

Résolution

0,1 nm (matrice de points de cristal)
0,19 nm (point à point)
0,13 nm (limite d'information)

Grossissement

200 fois à 1 500 000 fois

Tension d'accélération

300 kV, 200 kV*, 100 kV*

*
: sélection d'accessoires

Classification des produits associés

  • Faisceau d'ions focalisé
  • Unité de traitement frontal des échantillons TEM / SEM