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18ème étage, batiment de développement de Beijing, 5 East sanhuan North Road, Pékin
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Hitachi haute technologie (Shanghai) Commerce international Co., Ltd
Microscope à sonde à balayage multifonction afm100 plus / système afm100
NégociableMise à jour sur05/20
- Modèle
- Nature du fabricant
- producteurs
- Catégorie de produit
- Lieu d'origine
Vue d'ensemble
Le système afm100 plus / afm100 est un système de microscope à sonde de balayage universel à haute résolution conçu pour populariser les applications AFM dans la recherche et le développement, la production, l'éducation et d'autres occasions, ainsi que pour rechercher la fonctionnalité, la fiabilité et l'observation efficace.
Détails du produit
Microscope à sonde à balayage multifonction afm100 plus / système afm100
Le système afm100 plus / afm100 est un système de microscope à sonde de balayage universel à haute résolution conçu pour populariser les applications AFM dans la recherche et le développement, la production, l'éducation et d'autres occasions, ainsi que pour rechercher la fonctionnalité, la fiabilité et l'observation efficace.
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Caractéristiques
Caractéristiques
Système de sonde préinstallé pour un remplacement fiable de la sonde
Mesure / traitement / analyse automatique en un clic
Analyse d'observation AFM - sem - EDS avec le même champ de vision utilisant la fonction de marquage AFM
Données d'application
Présentation des données d'application de la microscopie à sonde à balayage.
Description
Expliquer les principes et les différents principes d'état de la microscopie à balayage à tunnel (STM) et de la microscopie à force atomique (AFM), entre autres.
Histoire et développement SPM
Décrivez l'histoire et l'évolution de nos microscopes à sonde à balayage et de nos équipements. (Global site)
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