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Parc scientifique et technologique de sugizang, 418 Huajing Road, Waigaoqiao, Nouveau district de Pudong, Shanghai
Instrument de bénédictin (Shanghai) Co., Ltd
15921165535
Parc scientifique et technologique de sugizang, 418 Huajing Road, Waigaoqiao, Nouveau district de Pudong, Shanghai
Pour l'analyse non destructive rapide des alliages d'or et d'argent et la mesure de l'épaisseur du revêtement, le fischerscope X - ray xan 220 est un instrument de mesure par fluorescence X optimisé pour l'analyse non destructive des bijoux, des pièces de monnaie et des métaux précieux. Il est particulièrement adapté à l'analyse de la composition et de l'épaisseur du revêtement des métaux précieux et de leurs alliages. Jusqu'à 24 éléments peuvent être déterminés simultanément dans la gamme du chlore (17) à l'uranium (92). Fischerscope X - ray xan 220 et xan 222 sont conformes aux normes Din ISO 3497 et ASTM B568. Notre société exploite également de nouveaux équipements importés de marques de renommée mondiale telles que: Taylor Hobson au Royaume - Uni, gillspeck tchèque (Groupe gearspect), Helmut Fischer en Allemagne, EPK en Allemagne, innovatest aux Pays - Bas, trimos en Suisse, Olympus aux États - Unis, Raytek aux États - Unis et d'autres fabricants de renommée mondiale, rugosimètres, jauges à engrenages cylindriques, jauges d'épaisseur de revêtement, toutes sortes de duromètres, altimètres, détecteurs de défauts à ultrasons, jauges à engrenage conique monoface do - 2 k PC, etc. Bienvenue aux messages en ligne ou aux demandes de renseignements par téléphone!!
• par la direction de mesure inférieure et supérieure, peut * facilement réaliser le positionnement de l'échantillon
Tous les systèmes à rayons X Fisher se caractérisent par une précision exceptionnelle et une stabilité à long terme. Le besoin de recalibrage est considérablement réduit, ce qui permet d'économiser du temps et des efforts. Les détecteurs modernes de dérive en silicium atteignent une grande précision et une bonne sensibilité de détection. La méthode paramétrique de base de Fisher permet l'analyse d'échantillons solides et liquides ainsi que de systèmes de revêtement sans étalonnage. Le xan220 est un instrument de bureau convivial. Le positionnement des échantillons est rapide et facile. L'ensemble source de rayons X et détecteur semi - conducteur est situé dans la partie inférieure de l'instrument, de sorte que la direction de mesure commence sous l'échantillon, qui est supporté par une fenêtre transparente.
| Utilisation prévue |
Le compteur de rayons X à dispersion d'énergie (ed XRF) est utilisé pour analyser la composition et l'épaisseur du revêtement des métaux précieux et de leurs alliages. |
| Gamme d'éléments |
Soufre s (16) à uranium U (92) – jusqu’à 24 éléments simultanément |
| Répétabilité |
Pour l'or ≤ 0,5 ‰, temps de mesure 60 secondes |
| Soitcalcul |
Unité de bureau avec couvercle ouvert vers le Haut |
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MesurerDirection de la quantité |
De bas en haut |
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XTubes à rayons |
Micro Focus Tungsten tube avec fenêtre en béryllium |
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Haute tension |
3étapes:30 kV,40 kV,50 kV; * grand courant d'anode: 1 ma |
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Ouverture (collimateur) et |
Ø 1 mm (39 mils), 可选 Ø 2 mm (79 mils) ou Ø 0,6 mm (23,6 mils) |
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Points de mesure |
Ø 1,2 mm (47 mils) avec ouverture Ø 1 mm (39 mils)Placer l'échantillon à plat (distance de mesure 0 mm) |