Agent de mesure d'épaisseur à rayons X fishill xdlm237

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Vue d'ensemble

Fischerscope X - ray xdlm237 est un spectromètre de fluorescence X (EDXRF) à dispersion d'énergie entièrement automatique fabriqué par Helmut Fischer (Fischer) en Allemagne, dédié à la mesure d'épaisseur de revêtement non destructif et à l'analyse de la composition des matériaux, c'est l'équipement principal pour le contrôle de la qualité dans les industries de l'électronique, du placage et des semi - conducteurs.

Détails du produit

Agent de mesure d'épaisseur à rayons X fishill xdlm237

Épaissimètre à rayons X fischerscope X - ray xdlm237 positionnement du noyau et caractéristiques

Mesure entièrement automatique: avec une table d'échantillonnage électrique Programmable XY + Z, elle prend en charge le balayage automatique des pièces en vrac avec la mesure multipoint.

Microfocus haute précision: diamètre de SPOT minimal de 0,1 mm, conçu pour les petites pièces de précision (connecteurs, broches, etc.).

Mesure de haut en bas: convient aux surfaces courbes, aux pièces profilées et n'est pas limité par la planéité de l'échantillon.

Grand échantillon compatible: corps avec rainure de type C, peut mesurer des pièces plates telles que des PCB de grande surface.

Conforme aux normes internationales: mesure selon Din ISO 3497 et ASTM B 568.

Paramètres techniques détaillés

1. Système de base

Source de rayons X: tube cible de tungstène micro - focalisé, haute pression à trois vitesses (10 / 30 / 50 KV)

Détecteur: Proportional counter

Élément de mesure: aluminium (AL, 13) uranium (U, 92), peut analyser ≤ 24 éléments simultanément

Mode de mesure: épaisseur de placage monocouche / multicouche, composition de l'alliage, dépistage des substances nocives (ROHS)

2. Optique et positionnement

Collimateurs (4 types): 0,1 mm / 0,3 mm / 0,6 mm / 0,5 x 0,15 mm fente

Filtres (3 types): Nickel (ni) / aluminium (AL) / sans filtre

Système de positionnement: caméra couleur CCD (zoom 40 - 160x) + positionnement laser + éclairage LED

Compensation de distance: technologie DCM, compensation automatique de la différence de hauteur de l'échantillon

3. Table d'échantillon (xdlm 237)

Course xy: 255 × 235 mm

Course de l'axe Z: 140 mm

Vitesse de déplacement: ≤ 80 mm / s

Précision de répétition: XY ≤ 0,01 mm

Hauteur de l'échantillon: 140 mm

Charge: Standard 5 kg / 20 kg (précision réduite)

4. Spécifications physiques

Dimensions: 570 × 760 × 650 mm (W × d × h)

Poids: environ 120 kg

Alimentation: 115 / 230 V, 50 / 60 Hz

Consommation électrique: 120 W

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