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Wuxi Junzhan Instrument Co., Ltd
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Helmut Fischer Fischer agent X - ray xdl230

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Vue d'ensemble

Helmut Fischer Fischer agent X - ray xdl230, fischerscope X - ray xdl230 est un appareil de mesure d'épaisseur de revêtement par fluorescence X (XRF) à dispersion d'énergie de haute performance de la société allemande Helmut Fischer, spécialisé dans le contrôle de la qualité industrielle et la détection des matériaux entrants, qui est le modèle principal rentable de la série xdl.

Détails du produit

Helmut Fischer Fischer agent X - ray xdl230

Paramètres techniques du compteur d'épaisseur à rayons X Fischer xdl230 Core

Principe de mesure: spectroscopie de fluorescence X (XRF), essais non destructifs.

Gamme d'analyse élémentaire: chlore (CL, numéro atomique 17) à uranium (U, numéro atomique 92).

Capacité de mesure:

Jusqu'à 24 éléments, 23 couches de placage peuvent être analysés simultanément.

Gamme d'épaisseur: nanométrique à millimétrique.

Précision: coefficient de variation de reproductibilité < 0,5%; Précision de la couche supérieure ≤ 5% pour une épaisseur ≥ 0,5 μm.

Helmut Fischer Fischer agent X - ray xdl230Système de rayons X:

Tube à rayons: cible en tungstène avec fenêtre en béryllium.

Haute pression: 30kv / 40kv / 50kv trois vitesses réglables.

Collimateur: standard avec φ 0,3 mm, optionnel φ 0,1 mm / 0,2 mm et rectangulaire.

Spot minimum: environ 0,2 mm (collimateur φ 0,1 mm).

Détecteur: compteur proportionnel (PC).

Table d'échantillon:

Axe XY manuel: plage de mouvement 95×150 MM.

Axe Z motorisé: débattement de 140 mm.

Compensation de distance DCM: prend en charge les mesures de cavité profonde de 0 à 80 mm.

Système de positionnement: caméra CCD haute résolution 40 - 160x + positionnement laser.

Méthode d'analyse: méthode de paramètre de base (FP) de Fisher, qui prend en charge la mesure sans étalon.

Dimensions et poids: 570 × 760 × 650 mm; 107 kg.