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Anhui Genesis Instrument Technology Co., Ltd
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Spectroscopie d'absorption des rayons X in situ

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Vue d'ensemble
La spectroscopie d'absorption des rayons X in situ révèle les lois d'évolution structurelle du matériau dans un environnement réel en surveillant en temps réel les signaux de bord proche (xanes) et de bord étendu (exafs) de la marge d'absorption pendant la réaction, fournissant une base directe pour comprendre les relations de structure et d'effet et optimiser la conception du matériau.
Détails du produit
La spectroscopie d'absorption de rayons X in situ utilise des sources de lumière x conventionnelles pour réaliser des mesures spectrales de la structure fine d'absorption de rayons X (XAFS), qui complètent et élargissent bien les infrastructures scientifiques et technologiques majeures telles que le rayonnement synchrotron et les instruments scientifiques tels que les microscopes électroniques, les diffractomètres de rayons X. Ce produit a actuellement été choisi par l'Université de Pékin, l'Université d'aéronautique et d'espace de Pékin, l'Université de Tianjin, l'Université de Chine du nord de l'énergie électrique, l'Université de Qinghai, l'Université d'Anhui et de nombreuses autres universités et universités, contribuant efficacement à la recherche scientifique pertinente et aux Applications pionnières!
Système de bureau miniaturisé, facile à utiliser:
· soutenez la fonction de balayage rapide de bord proche;
· soutenir les fonctions étendues telles que les tests in situ;
· haute conception ergonomique, opération plus facile;
· paramètres expérimentaux intégrés prédéfinis pour réaliser des mesures rapides;
· différents échantillons, différents modes de mesure commutent automatiquement en un clic;
· transmission de données à distance, affichage en temps réel des processus expérimentaux et des résultats pour soutenir les tests sans surveillance;
· support technique d'application professionnel et support d'analyse de données;
· l'instrument a la qualification d'exemption de rayonnement et l'interverrouillage de protection de sécurité multiple pour assurer la sécurité personnelle et d'utilisation.
  Courbure spéciale XAFS:
· différentes configurations cristallines complètes pour réaliser la couverture des éléments individuels;
· installation pré - collimatée, plug - and - play;
· peut personnaliser les cristaux de courbure spéciaux en fonction des éléments requis pour une performance optimale.
  Spectromètre de structure fine d'absorption de rayons X (XAFS) Spectromètre d'absorption de rayons X test de spectroscopie d'énergie mécanisme de balayage:
· mécanisme de balayage couplé;
· réaliser une liaison précise de la source lumineuse, de la courbure, de l'échantillon et du détecteur;
· haute précision et résolution, bonne stabilité.