Japon Electronics it210 miroir électrique à balayage

La collecte de données est simple!

JSM - it210 miroir électrique à balayageEst le plus petit microscope électronique à balayage au sol fabriqué électroniquement au Japon.

L'entraînement du moteur à 5 axes rend l'opération plus sereine et rapide; Et parce qu’il est équipé de « simple SEM », il suffit de sélectionner les microzones pour les observer et les analyser automatiquement.

Le JSM - it210 est un SEM de nouvelle génération compact et maniable par personne.

Caractéristiques principales

1. Navigation sûre et simple pour l'échange d'échantillons

① mettre l'échantillon selon les instructions de navigation

② préparez - vous à l'observation en utilisant l'espace de l'aspiration

③ démarrer automatiquement l'observation

2. Pas besoin d'agrandir l'image optique, SEM comme "zeromag"

"Zeromag" est le schéma de la table d'échantillons, l'image optique et la fonction de liaison d'image Sem, il est facile de trouver la zone à observer lorsque plusieurs échantillons sont placés sur la table d'échantillons ou lorsque vous observez un endroit spécifique.

3. Analyse élémentaire en temps réel pendant l'observation "live Analysis"

"Live Analysis" est une fonction qui affiche en temps réel les rayons X caractéristiques et la distribution des surfaces des éléments, permettant de rechercher des éléments cibles tout en observant.

4. Test automatique coloré de la fonction « simple SEM »

"Simple SEM" est une fonction qui permet de prendre des photos automatiquement en configurant simplement la zone d'observation.

5. Puissant support de test automatique

Test automatique d'assistance de banc d'échantillon de haute précision. L'amélioration de la précision de la position de la table d'échantillonnage rend le test continu et le test automatique de plusieurs domaines multipoints plus pratiques.

6. Charge Standard 60 mm²EDS de grand calibre pour une analyse plus rapide

* La même qualité de spectre qu'un EDS traditionnel peut être obtenue en peu de temps, tout en permettant une analyse multipoint efficace.

* Les échantillons sensibles à la chaleur peuvent également être testés en toute tranquillité d'esprit

Les techniques EDS traditionnelles nécessitent des courants importants pour l'analyse et, pour les échantillons sensibles à la chaleur, peuvent provoquer des déformations dues à des dommages causés par la chaleur, ce qui affecte l'analyse de la distribution des surfaces élémentaires.

60 mm²L'EDS peut obtenir la distribution des surfaces élémentaires en réduisant la quantité de courant d'irradiation, ce qui peut réduire les dommages thermiques et effectuer des analyses.

* même dans un court laps de temps, le miroir électrique à balayage JSM - it210 permet d'obtenir une carte claire de la distribution des éléments

60 mm²L'EDS ne mesure que 1 minute et peut également obtenir une carte suffisamment claire de la distribution des surfaces élémentaires.