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Courriel
michael.han@sypht.com.cn
- Téléphone
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Adresse
Parc de Kecheng, district de Wujiang, Suzhou, Jiangsu
Catégories de produits
Seifet scientific instruments (Suzhou) Co., Ltd
Microscope électronique japonais
NégociableMise à jour sur01/30
- Modèle
- Nature du fabricant
- producteurs
- Catégorie de produit
- Lieu d'origine
Vue d'ensemble
JSM-IT510 InTouchScope amp; trade; Le microscope électronique japonais n'est pas seulement un outil indispensable pour effectuer des travaux de recherche scientifique, mais aussi pour les usines de fabrication nécessitant un contrôle. Dans ces scénarios, l'utilisateur doit effectuer les mêmes opérations d'observation à plusieurs reprises, de sorte que leur exécution rapide contribue à améliorer la productivité. La nouvelle fonctionnalité « simple SEM » du JSM - it510 permet aux utilisateurs de « lui confier les actions répétitives manuelles » dont ils ont besoin pour effectuer des observations SEM de manière plus efficace et plus facile.
Détails du produit
Eau nouveau simple SEM
Il suffit de sélectionner le champ de vision cible "simple SEM" pour soutenir le travail quotidien.
Échantillon: composants électroniques
Tension d'accélération: 15 KV, grossissement: × 50 (partie supérieure) × 1000 (partie inférieure), signal: be
JSM-IT510 InTouchScope™Microscope électronique japonaisÉchanges d'échantillons Navigation
Du guidage de l'échange d'échantillons à l'observation automatique est sûr et facile!
1. Suivez le Guide de navigation pour configurer l'échantillon
Mesurer la hauteur de l'échantillon
2. Préparez - vous à l'observation du vide
* 1 le système de navigation du banc d'échantillons (SNS) est l'accessoire sélectionné
* 2 le système snsls (Large Area Sample Desk Navigation System) est un accessoire sélectionné
* 3 Sample Room Camera (CS) est l'accessoire sélectionné
3. Commencez à observer automatiquement
Imagerie automatique une fois le vide terminé
ZeromagJSM-IT510 InTouchScope™Microscope électronique japonaisPermet facilement une conversion transparente entre les images optiques et les images SEM
La fonction zeromag simplifie la navigation en offrant une transition transparente de l'image optique à l'image Sem.
SEM、 L'image optique et l'intention de la table d'échantillon sont toutes liées ensemble pour obtenir une vue globale de l'emplacement analysé.
Échantillon: Ammonite fossile tension d'accélération: 7kv signal: be
Analyse en temps réel / cartographie guidée en temps réel * 2
1. Maîtriser la composition élémentaire de la zone tout en observant SEM
L'analyse en temps réel est une fonction qui affiche un spectre EDS ou un diagramme élémentaire en temps réel pendant l'observation de l'image. Cette fonctionnalité prend en charge la recherche d'éléments cibles et fournit des alertes.
2. Analyse simple jusqu'à 3 clics pour commencer l'analyse EDS
Plusieurs options avancées
1. Nouveau détecteur d'électrons secondaires hybride à vide faible (lhsed) *
Ce nouveau détecteur peut collecter des signaux électroniques et photoniques et fournir des images avec un rapport signal sur bruit élevé et des informations topographiques améliorées
2.new Real - Time 3D les images obtenues par le nouveau détecteur multidirectionnel Split be * peuvent être affichées comme des images 3D en temps réel.
Même si l'échantillon a des ondulations de surface subtiles, la 3D en temps réel peut intuitivement le représenter clairement et obtenir des informations sur sa profondeur.
Échantillon: vis tension d'accélération: 15kv grossissement: X100 signal: be
3. Montage
La fonction de montage peut automatiquement acquérir des images de plusieurs petits champs de vision et assembler ces images en une seule image avec un plus grand champ de vision.
échantillon: fossiles d'ammonite
Tension d'accélération: 15kv grossissement: x150 signal: be nombre de champs de vision: 13 x 13
4. Afficher la profondeur du signal
Cette fonction affiche la profondeur d'analyse (valeur approximative) de l'échantillon mesuré en temps réel et est utile pour l'analyse élémentaire.
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