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Beijing zhongjiangyie instrument instrument instrument Co., Ltd
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Microscope à matériaux orthogonaux de qualité recherche axioscope

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Le microscope à matériaux orthogonaux de qualité de recherche axioscope peut effectuer des mesures sur la taille des grains, les inclusions de la teneur en phase substance et l'épaisseur de la couche de film, etc.; Peut effectuer la métallographie, l'imagerie polarisante, fournir une solution complète pour la science des matériaux. L'observation par C - DIC (Differential Interference Liner for Circular Polarized) met en évidence de minuscules structures convexes telles que des rayures sur la surface de l'échantillon (100 µm).
Détails du produit

Microscope à matériaux orthogonaux de qualité de recherche modèle: axioscope

研究级正置材料显微镜 Axioscope

Microscope à matériaux orthogonaux de qualité recherche axioscopeSérie adaptée à la qualité des données etUn travail de détection exigeant une répétabilité élevée.

Caractéristiques du produit: peut effectuer des mesures sur la taille des grains, les inclusions de la teneur en phase substance et l'épaisseur de la couche de film, etc.; Peut effectuer la métallographie, l'imagerie polarisante, fournir une solution complète pour la science des matériaux.

Microscope à matériaux orthogonaux de qualité rechercheAxioscopeParamètres de base:

Système optique:Correction achromatique à distance infinie avec optique améliorée par contraste.

Objectif:5x、10x、20x、50x、100x, 1.25x, 2.5x, 40x, 150x en option.

Oculaires:10x et 23.

Fonction d'observation:La lumière réfléchie a un champ clair, un champ sombre avancé ADF, une polarisation circulaire, une interférence différentielle, une fluorescence.

Carrousel objectif:6 trous.

Cas d'application:L'observation par C - DIC (Differential Interference Liner for Circular Polarized) met en évidence de minuscules structures convexes telles que des rayures sur la surface de l'échantillon (100 µm).

研究级正置材料显微镜 Axioscope