SRM 1976c norme de diffraction des rayons X sur poudre d'alumine

SRM 1976c norme de diffraction des rayons X sur poudre d'alumine Présentation:

Numéro d'expédition NIST: SRM 1976c

Titre original: instrument Response Standard for X - ray Powder diffusion

Nom chinois: norme de diffraction de poudre de rayons X d'alumine

Spécifications: 1 disque

Période de validité:

La certification du Mrs 1976c est valable indéfiniment dans les limites de l'incertitude de mesure spécifiée, à condition que le Mrs soit manipulé et stocké conformément aux instructions du présent certificat (voir « instructions de stockage et d'utilisation»). Il n'est pas nécessaire de recertifier régulièrement ce SRM. Si le SRM est endommagé, contaminé ou autrement modifié, la certification n'est pas valide.

Description du matériel:

Le procédé de fabrication utilisé pour réaliser ce SRM a été développé pour la réalisation de substrats de composants électroniques. Les poudres d'alumine utilisées comme précurseurs de ces substrats présentent une grande pureté de phase (structure corindon) et une morphologie granulaire feuilletée. Les plaquettes ont généralement un diamètre de 5 µm à 10 µm et une épaisseur de 2 µm à 3 µm. Le processus de compactage du disque produit une texture axisymétrique dont la surface de base tend à être parallèle à la surface du disque. Cette propriété axisymétrique de la texture permet de monter l'échantillon dans n'importe quelle direction autour de la normale à la surface. Le frittage en phase liquide est réalisé à l'aide d'un petit compact relatif en verre feldspath calcique. Aucune impureté cristalline n'a été détectée. La phase vitreuse impliquée dans le frittage en phase liquide empêche efficacement le contact entre les particules et se détend lors du refroidissement de la pièce à partir de la température de frittage. Il en résulte un développement minimal des microdéformations et de leur élargissement Spectral associé; Bien que certaines microdéformations puissent être détectées, telles que des élargissements Gaussiens avec une dépendance à tanθ. Dans cet esprit, et pratiquement sans élargissement de la taille des grains, le SRM 1976c peut être utilisé pour obtenir une approximation de la fonction de profil de l'instrument (IPF). Cependant, l'analyse microstructurale quantitative avec SRM 1976c n'est pas recommandée. Les disques qui composent cette matière première SRM sont fabriqués en une seule production spécialisée pour assurer la cohérence de la microstructure en termes de granulométrie, de forme, de microdéformation et de texture.

Utilisation du produit:

Cette substance de référence standard (SRM) est constituée d'un disque d'alumine fritté servant à calibrer la position et l'intensité des raies d'un appareil de diffraction des rayons X en fonction de l'angle 2θ. Le SRM sous forme solide élimine toute variation des mesures d'intensité introduites par le processus de chargement de l'échantillon. Une cellule du SRM 1976c est constituée d'un disque d'alumine fritté d'environ 25,6 mm de diamètre et 2,2 mm d'épaisseur.

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La liste partielle des substances standard est la suivante: