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Bâtiment Hechuan, tour a, 235 Nanjing Road, nanjingmen Street, zone de paix, Tianjin 22b - 1
Technologie Optoélectronique Cie., Ltd de Tianjin Ruili
Bâtiment Hechuan, tour a, 235 Nanjing Road, nanjingmen Street, zone de paix, Tianjin 22b - 1
Nom du produit:Spectromètre sarspec X - res
Modèle de produit:X-RES 1
Présentation du produit
Le X - res est idéal pour les spectromètres qui nécessitent des performances de haute résolution et qui sont capables de résoudrePrécisDegré da Signature spectrale étroitement alignée à 0,05 nm (fwhm). Le X - res est monté sur une table optique robuste et compacte avec une distance focale de 100 mm et est capable de fournir une gamme de longueurs d'onde de fonctionnementhautLes performances et la sensibilité, ainsi que la symétrie de crête plus grande, font de cette famille de spectromètres une solution pour les applications à haute résolution.
Des fonctions telles que des fentes remplaçables par l'utilisateur et des filtres optiques, un indicateur d'état d'alimentation et une fonction de déclenchement peuvent intégrer ce spectromètre à vos paramètres.X - res offre des configurations prêtes à l'emploi (pour les applications les plus courantes) et personnalisées par l'utilisateur (pour des applications plus spécifiques) pour les gammes UV - vis et vis - NIR étroites et les gammes UV - vis - NIR étendues.
Caractéristiques de performance
lIdéal pour les applications haute résolution
lFentes et filtres optiques remplaçables par l'utilisateur
lRésolution optique aussi basse que 0,05 nm (FWHM)
lConception optique améliorée - longueur focale de 100 mm
lAccessoire Logiciel lightscan
Guide de sélection des types
Paramètres techniques
Origine: Portugal
Plage d'opération:185 - 1100 nm (divisé en 8 plages de fonctionnement)
Objectif de concentration: optionnel (inclus dans la version avec sensibilité accrue)
Connecteur de fibre optique:SMA 905
Trigger: Entrée/ sortie
Taille de la fente:10 μm (remplaçable)
Le détecteur:3648 éléments Toshiba
Temps d'intégration:3ms-214s
Logiciel:Lightscan (inclus)
Raster: selon la gamme choisie
Résolution optique:0,05 à 0,1 nm
Interface:Mini-USB
Application du produit
Le X - res est un spectromètre haute résolution capable de répondre à toutes les exigences de vos applications haute résolution.
Les fonctions de fente et de filtre optique remplaçables par l'utilisateur vous permettent de configurer X - res pour des mesures plus sensibles. Cette flexibilité, combinée à une sensibilité améliorée, fait de ce système une solution pour les applications à haute résolution telles que la caractérisation en longueur d'onde des lasers et des LED, la surveillance des raies spectrales d'émission des sources calibrées ou la détermination des raies d'émission atomique des éléments.