Système de test de deuxième harmonique

Excipolar SHG Second Harmonic Testing System $R $N • utilise un chemin optique confocal conforme pour un contrepoint coaxial précis et hautement répétable $R $N • Imagerie intégrée, détection spectrale et de polarisation pour soutenir l'acquisition synchrone et l'analyse conjointe $R $N • utilise une technologie de suppression de fréquence fondamentale pour améliorer considérablement le Rapport signal sur bruit et réduire les interférences de fond

Excipolar SHG deuxième harmonique microscopie et système de caractérisation

Conçu pour des applications telles que l'optique non linéaire, les matériaux bidimensionnels, les dispositifs ferroélectriques / piézoélectriques, les cristaux semi - conducteurs et l'imagerie du biocollagène.

Excipolar SHG excite en femtoseconde / picoseconde une liaison d'imagerie confocale conservée couplée à une séparation / filtration chromatique et à une détection hautement sensible pour réaliser l'imagerie et la caractérisation quantitative de la polarisabilité non linéaire χ (2) du deuxième ordre de l'échantillon. Contrôle de polarisation automatisé intégré au système et étalonnage de puissance / réponse pour réduire l'erreur de l'instrument tout en améliorant l'efficacité de la collecte et en supprimant le fond de fréquence fondamentale; La symétrie cristalline et la détermination de l'axe principal, la cartographie domaine / anisotropie, la reconnaissance du nombre de couches et l'analyse de contrainte et d'orientation peuvent être complétées en un seul clic et utilisées conjointement avec Raman / PL pour intégrer l'imagerie, la spectroscopie et la mesure de polarisation dans un processus à guichet unique.

Schéma du schéma SHG

Système de test de deuxième harmoniqueCaractéristiques principales

• chemin confocal préservé: excitation - collecte de l'état de maintien de la polarisation de la liaison complète, adapté aux mesures SHG dépendantes de la polarisation.

• Imagerie × couplage Spectral: microscopie SHG dans le même champ de vision avec commutation en un clic du spectre; Les zones sélectionnées automatisent la spectroscopie et les statistiques.

• Analyse de polarisation automatisée: déviation motorisée / détection de déviation avec balayage de la lame d'onde, générant un rosigramme polarisé avec une courbe P - SHG, prenant en charge l'ajustement du tenseur χ (2) avec le Groupe de points.

• double étalonnage intensité / Réponse: la normalisation de la puissance est parallèle à la correction de la réponse de l'instrument, ce qui réduit l'erreur du système et garantit la comparabilité entre les différents lots / échantillons.

• Mesures Multi - géométriques: réflexion, transmission et Surface - commutation libre SHG, prise en charge de la résolution angulaire et du Z - scan pour la correspondance de phase et les informations d'interface.

• coaxial: coaxial avec Raman / PL, le chemin optique n'a pas besoin d'être redimensionné, les cartes s'authentifient mutuellement pour former un processus de caractérisation à guichet unique.

• séparation et filtrage efficaces des couleurs: suppression forte des fréquences fondamentales, priorité à travers les deuxièmes harmoniques, amélioration significative du rapport signal / bruit et faible visibilité du signal.

• prévisualisation et compatibilité avec le contrepoint: prévisualisation en temps réel du canal de la caméra, couplage de micropointes et de grands champs de vision; Compatible avec les plateformes de transfert / caractérisation de matériaux 2D.

• Logiciel de processus: mesure en un clic, exportation de lots et de rapports, interface de script intégrée pour faciliter l'automatisation et le développement secondaire.

• Sécurité et extension: l'interverrouillage de puissance avec un flux de travail à faible dose assure la sécurité des échantillons; Modules optionnels thg / efishg, contrôle de la température, charge de champ électrique / contrainte, etc. Plug & Play.

Système de test de deuxième harmoniqueDomaines d'application:

• matériaux bidimensionnels: détermination du nombre de couches et de la symétrie, mesure de l'axe cristallin et de l'angle de torsion, structure de domaine et cartographie des contraintes - orientations

• Dispositifs ferroélectriques / piézoélectriques: imagerie de la structure du domaine et des limites inversées; Variation SHG in situ sous champ électrique appliqué

• Dispositifs semi - conducteurs / photoniques: orientation isocristalline ln / GaN / AlN et évaluation de la qualité de l'interface

• surfaces et interfaces: surveillance dynamique s - SHG in situ des processus d’adsorption / fonctionnalisation / oxydation

• matière biologique et molle: imagerie structurale sans coloration comme le collagène et analyse anisotrope

Diagramme d'intensité SHG du CdSe sous une excitation de 1550 nm