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Suzhou Mangofei Instrument Co., Ltd
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Solarius AOP - détecteur d'épaisseur double face

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L'équipement de détection d'épaisseur double face AOP peut synchroniser la position correspondante de la surface et de la surface inférieure du produit de mesure sans contact, évitant efficacement les erreurs de mesure dues à la déformation de la surface de support due à la force inégale de la zone de contact

Détails du produit



L'équipement de détection d'épaisseur double face AOP peut synchroniser la position correspondante de la surface et de la surface inférieure du produit de mesure sans contact, évitant efficacement les erreurs de mesure dues à la déformation de la surface de support résultant de la force inégale de la zone de contact. Non seulement vous obtenez les valeurs d'épaisseur de chaque point du produit, mais vous pouvez également analyser la planéité, le parallélisme et les dimensions géométriques de chaque face.