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Seifet scientific instruments (Suzhou) Co., Ltd
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Microscope électronique à balayage par émission de champ thermique

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Vue d'ensemble
JSM - it710hr la visibilité claire du microscope électronique à balayage par émission de champ thermique favorise de nouvelles découvertes! $R $N $R $N actuellement, en plus de la résolution et des performances analytiques à l'échelle nanométrique, la puissance de traitement de l'acquisition de données est également considérée comme importante. Le JSM - it710hr est la quatrième génération de la gamme HR * lancée par JEOL avec la philosophie « SEM où tout le monde peut facilement prendre des images haute résolution ». $R $N $R $njsm - it710hr l'automatisation des opérations et l'amélioration des performances d'observation permettent aux utilisateurs de passer de la visibilité à l'exploration de l'inconnu.
Détails du produit

/ / /Au - delà de ce qui est vu, explorer l'inconnu/ / /



热场发射扫描电子显微镜



热场发射扫描电子显微镜


热场发射扫描电子显微镜


JSM - it710hr charge réduite: échantillon fourni par: M. Shiro Asakura, Section d'ingénierie de la vie, Département d'ingénierie, Université a & M de Tokyo

JSM - it710hr analyse de la structure cristalline: offre d'échantillon: M. Tsuru Kaga, Institut des matériaux matériels (NIMS)


Nouvelles fonctionnalités

1. Observation automatique: simple SEM / EDS

Simple SEM améliore la productivité au quotidien en définissant plusieurs conditions à la fois pour automatiser les tests.


热场发射扫描电子显微镜

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Live 3D: 3D en temps réel

Des images 3D vivantes peuvent être observées à faible grossissement.


热场发射扫描电子显微镜

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3. JSM-IT710HRMicroscope électronique à balayage par émission de champ thermiqueDétecteur électronique secondaire hybride à faible vide (lhsed)

Le lhsed est un nouveau détecteur à faible vide capable de basculer les observations entre les informations d'émission de lumière et les images topographiques.



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4. La stabilité du canon à électrons shotky Field shot a été améliorée plus de 4 fois

> ajustement automatique du faisceau d'électrons

Le JSM - it7010hr s'ajuste automatiquement de l'axe à l'astigmatisme, sans nécessiter de manipulations manuelles fastidieuses.



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> système de détection électronique secondaire



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Échantillon gauche: plumes de paon, ÉCHANTILLON droite: microfibres de cellulose


> haute résolution et grand faisceau de flux

Le canon à électrons à émission de champ Schottky et le concentrateur du JSM - it710hr sont intégrés pour maintenir de petites taches tout en générant de grands flux de faisceaux, permettant une observation et une analyse hautement résolues.


> système de détection électronique de rétrodiffusion

Le nouveau détecteur de rétrodiffusion Multi - partition peut acquérir des informations de rétrodiffusion dans 4 directions simultanément, générer une image 3D simple et l'afficher en temps réel.



5. Toutes les analyses commencent par zeromag

Amélioration des capacités de recherche de champ visuel avec l'image optique de zeromag; L'image SEM est couplée à l'image optique pour simplifier l'observation, l'analyse et les tests automatisés.



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6. JSM-IT710HRMicroscope électronique à balayage par émission de champ thermiqueIntégration EDS tout - en - un

JEOL, en plus de Sem, fabrique et commercialise également des EDS de manière autonome. Grâce à cet avantage, les images d'observation et les résultats d'analyse EDS du SEM peuvent être exploités et gérés de manière centralisée, et les capacités opérationnelles et de gestion des données sont améliorées.



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7. Microscope électronique à balayage par émission de champ thermiqueAnalyse de phase

L'EDS de JEOL ajoute une fonction d'analyse de phase qui permet d'effectuer des analyses de distribution de surface pour chaque substance (composé / monomère).


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Échantillon: Section d'une lame de coupe de précision

L'analyse de phase montre des différences entre les composantes riches en Co, Cu et SN.


Co zone: 68.15%

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Superficie CuSn (CuRich): 16,25%

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Superficie de CuSn (SnRich): 14,54%

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