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Bâtiment 3, bâtiment international pearjiang Moore, district de Changping, Pékin
Catégories de produits
Beijing ruiko Zhongyi Technology Co., Ltd
Spectromètre de structure fine à absorption de rayons X à ultra - haut flux lumineux
NégociableMise à jour sur07/07
- Modèle
- Nature du fabricant
- producteurs
- Catégorie de produit
- Lieu d'origine
Vue d'ensemble
Spectromètre de structure fine à absorption de rayons X à ultra - haut flux lumineux, avec une conception unique de monochromateur circulaire Roland de type Johann, sans source de rayonnement synchrotron, à partir d'un détecteur où les rayons X émis par une source ponctuelle répondent à l'équation de Bragg et où la diffraction se re - converge vers le cercle de Roland, la lumière monochromatique de différentes énergies est obtenue en changeant l'angle de Bragg, ce qui permet des tests XAFS de haute qualité dans un laboratoire conventionnel.
Détails du produit
Installation de rayonnement synchrotron "emménagée" dans le laboratoire
Spectromètre de structure fine à absorption de rayons X à ultra - haut flux lumineuxAvantages
Données fiables: les données sont hautement cohérentes avec le rayonnement synchrotron
Gamme d'énergie: 4.5-15kev, extensible à 20kev
Éléments de test: mise en œuvre 3D, 5d, essai des métaux de transition des éléments de terres rares
Autonome contrôlable: 90% des composants sont autonomes et contrôlables sans risque de politique
Production élevée: aider les clients à publier plus de cent vingt articles de qualité supérieure en un an
Haute performance: Test d'échantillon de contenu de 1% en 1 heure
Flux lumineux élevé: > 2 000 000 photos / sec@8keV
Simple et facile à utiliser: mise en service avec seulement une demi - journée de formation
Faible coût de maintenance: aucun entretien personnel, fonctionnement, administration, etc.
Spectromètre de structure fine à absorption de rayons X à ultra - haut flux lumineuxLe principe
La structure fine d'absorption de rayons X (XAFS), également connue sous le nom de spectroscopie d'absorption de rayons X (xAs), est un outil puissant basé sur une source de rayonnement synchrotron, l'étude de la structure atomique ou électronique locale d'un matériau, largement utilisé dans les domaines de la catalyse, de l'énergie, des nanomètres et autres domaines thermiques.
Le rapidxafs utilise un design unique de monochromateur circulaire Roland de type Johann qui élimine le besoin d'une source de rayonnement synchrotron, les rayons X émis par une source ponctuelle répondent à l'équation de Bragg et la diffraction se produit pour converger vers un détecteur circulaire Roland pour obtenir une lumière monochromatique de différentes énergies en changeant l'angle de Bragg, ce qui permet maintenant des tests XAFS de haute qualité dans les laboratoires conventionnels.
Spectre XAFS:
Structures proximales absorbant les rayons X (xanes)
Structure fine à absorption étendue des rayons X (exafs)
EXAFS
La gamme d'énergie est approximativement de 50ev à 1000ev derrière le bord d'absorption, résultant de l'effet de diffusion unique d'un seul électron entre les atomes environnants et les atomes absorbants des photoélectrons de la couche interne excités par les rayons X.
XANES
La plage d'environ 10 EV avant la marge d'absorption à environ 50 EV après la marge d'absorption provient principalement de l'effet de diffusion multiple d'un seul électron entre les atomes environnants et les atomes absorbants des photoélectrons de la couche interne excités par les rayons X.
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