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Hunan graeber Electronic Technology Co., Ltd
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Analyseur de réseau vectoriel vna - p

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Vue d'ensemble

La gamme de fréquences de l'analyseur de réseau vna - P est de 100khz ~ 67ghz, ce qui peut couvrir les besoins de test des produits à micro - ondes en bande C / X / Ku / K / Ka / U. Il doit être utilisé dans la recherche et le développement et les essais de production dans les domaines des communications par micro - ondes, des communications par satellite, de l'armée spatiale et d'autres domaines. Avec l'écran tactile 12.1 ⼨ et les touches de fonction physique, ⻡ facile à utiliser ⼾ diverses opérations de débogage. Doté de fonctions complètes d'analyse de test et d'algorithmes d'étalonnage, ⽀ hold - end ⼝ Matching, ifd et d'autres algorithmes de simulation de pinces, ⽀ hold - Time Domain Analysis, test de diagramme de l'œil, ⽀ hold - up pour obtenir une extension de bande d'onde millimétrique plus ⾼ fréquence grâce à un module d'étalement de spectre externe

Détails du produit


VNA-P矢量网络分析仪

Suppression automatique de la pince résoudre efficacement les problèmes de test des dispositifs à joints non standard

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Amélioration de l'effet du test TDR Eye graph

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Excellente plage dynamique: 120dB@67GHz (typ.)

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Bruit de piste très faible: 5mdb RMS (typ.) @ ifbw = 70khz

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VANRôle central et paramètres de mesure

Le rôle central du vna est de caractériser complètement le dispositif en émettant un signal de balayage de fréquence connu et contrôlable vers le dispositif sous Test (DUT), puis en mesurant avec précision les signaux qu'il réfléchit et transmet en retour.

Il mesure principalement les quatre grandes catégories de paramètres clés suivants:

(1).Paramètres de réflexion (S11, s22 dans le paramètre s) - mesure "si le signal est effectivement admis ou consommé"

S11 (coefficient de réflexion d'entrée): mesure le signal entrant par le port 1, combien sont réfléchis. Ceci est directement lié à:

Perte de retour: Combien le signal réfléchi est perdu, plus la valeur est grande, mieux c'est.

En résidence à Boby: Mesure du degré d'adaptation d'impédance, plus près1 est mieux.

Impédance d'entrée: Peut être calculé directement.

(2).Paramètres de transmission (S21, s12 dans le paramètre s) - mesure de la "variation du signal après son passage dans le dispositif"

S21 (forward Transmission Factor): mesure la transmission du signal du port 1 au Port 2. Ceci est directement lié à:

Le gain/ perte d'insertion: l'amplificateur est le gain (valeur positive), le filtre, le câble est la perte d'insertion (valeur négative).

Décalage de phase: Combien la phase a changé après le passage du signal.

Délai de groupe: Le taux de variation de la phase avec la fréquence est essentiel à la transmission du signal numérique.

S12 (coefficient de transmission inverse): mesure de l'isolement d'un signal, par example l'isolement inverse d'un amplificateur

Principaux domaines d'application

Sur la base des capacités de mesure décrites ci - dessus,La vna joue un rôle essentiel dans les domaines suivants:

(3).Conception et test de l'antenne:

Mesure du rapport d'onde stationnaire de l'antenne (VSWR) et la perte de retour, en veillant à ce qu'elle rayonne efficacement l'énergie au lieu de la renvoyer.

Mesure de l'impédance d'entrée de l'antenne pour la conception de circuits adaptés.

(4).Dispositifs passifs tels que filtres, duplexeurs, diviseurs de puissance, etc.:

Mesure des pertes d'insertion, inhibition hors bande, planéité de bande passante Et la linéarité de phase.

(5).Dispositifs actifs tels que amplificateurs, mélangeurs, etc.:

Mesure du gain, planéité du gain, point de compression (P1dB)、 Tri - order turn - off (toi) et isolation inverse.

(6).Câbles et connecteurs:

Mesure des pertes d'insertion, stabilité de phase Et le retard.

Évaluer la qualité du connecteur et l'uniformité du câble.

(7).Caractérisation des matériaux:

En mesurant le matériau dans un gabarit spécifiqueParamètre s, peut inverser la constante diélectrique et la Perméabilité magnétique du matériau.

(8).Section de diffusion Radar (RCS) mesure:

Dans la chambre noire, parLe vna mesure les propriétés de réflexion de l'objet cible sur les ondes électromagnétiques.