Analyseur de rayons X

Analyse rapide

L'utilisation innovante et collaborative de l'imagerie par transmission de rayons X avec la spectroscopie de fluorescence X avancée permet à l'ea8000a de scanner jusqu'à 100 fois plus rapidement que les autres méthodes. Par exemple, il suffit de 30 minutes pour détecter et analyser la composition de particules métalliques de 20 µm dans une zone de 200 x 250 mm.

Fonctionnement automatique

L'ea8000a peut détecter des corps étrangers métalliques à l'aide d'images de projection de rayons X, puis scanner automatiquement ces zones à l'aide de la technologie XRF.

Capacité à détecter les corps étrangers incorporés

La technologie d'imagerie utilisée par Hitachi garantit la détection de corps étrangers métalliques dans tout le volume de l'échantillon. L'optique capillaire XRF avancée fournit un faisceau de rayons X hautement focalisé et intense pour analyser les corps étrangers métalliques sous la surface des plaques d'électrodes et des films organiques.

Soutien à la production à grande échelle

Avec sa polyvalence, sa vitesse élevée et ses caractéristiques d'automatisation, l'ea8000a peut soutenir la production en série. Il complète rapidement le balayage et est donc idéal pour l'analyse des matières premières, le contrôle des processus et l'analyse des défaillances, garantissant que tous les aspects de la production de batteries lithium - ion répondent à des normes de qualité élevées.

Spécifications de l'analyseur de rayons X ea8000a