Microscope des matériaux Zeiss

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Vue d'ensemble

Les principes de la microscopie des matériaux Zeiss sont principalement basés sur la microscopie optique et la microscopie électronique. La microscopie optique agrandit l'échantillon par réfraction et réflexion de la lumière, tandis que la microscopie électronique utilise un faisceau d'électrons au lieu d'un faisceau lumineux, offrant une résolution plus élevée et une imagerie détaillée de l'échantillon.

Détails du produit

Microscope des matériaux ZeissLe principe repose principalement sur la microscopie optique et électronique. La microscopie optique agrandit l'échantillon par réfraction et réflexion de la lumière, tandis que la microscopie électronique utilise un faisceau d'électrons au lieu d'un faisceau lumineux, offrant une résolution plus élevée et une imagerie détaillée de l'échantillon. Le principe de base de la microscopie optique consiste à focaliser les rayons lumineux à travers un système de lentilles formant une image agrandie; La microscopie électronique, quant à elle, utilise un faisceau d'électrons pour scanner l'échantillon et recueillir des signaux électroniques secondaires pour former une image haute résolution. Ces microscopes combinent une conception optique avancée et une technologie électronique pour étudier plus en profondeur la microstructure du matériau.

Caractéristiques du microscope à matériaux Zeiss:

Combinaison de microscopie optique et imagerie confocale

La plate - forme confocale lsm900 a été spécialement développée pour les applications de matériaux difficiles en 2D et 3D.

Vous pouvez caractériser les caractéristiques topographiques d'un échantillon et évaluer la rugosité de surface avec l'imagerie confocale sans contact

Détermination de l'épaisseur du revêtement et du film de manière non destructive

Vous pouvez utiliser une variété de méthodes d'imagerie, y compris la microimagerie polarisée et fluorescente en mode d'observation optique ou en mode confocal

Caractérisation des échantillons métallographiques en lumière réfléchie et des échantillons de roche ou de lamelles de polymère en lumière transmise.

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