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Beijing keriyong Technology Co., Ltd
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Système de microscope à connexion optoélectronique Zeiss

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Vue d'ensemble
Le système de microscopie à utilisation combinée optoélectronique de Zeiss combine les technologies de microscopie optique et de microscopie électronique pour permettre aux utilisateurs de réaliser des images haute résolution et des analyses approfondies sur une seule plate - forme.
Détails du produit
Système de microscope à connexion optoélectronique ZeissLa combinaison des technologies de microscopie optique et électronique permet aux utilisateurs de réaliser des images haute résolution et des analyses approfondies sur une seule plate - forme. Les avantages d'un tel système comprennent:

1, Observation initiale et balayage par microscope optique, suivi d'une analyse détaillée à plus haute résolution par microscopie électronique.

2, en combinaison avec différentes techniques de microscopie, les échantillons peuvent être observés à différentes échelles pour fournir une analyse plus complète.

3, le système peut intégrer les données du microscope optique et électronique, ce qui facilite l'analyse complète de l'échantillon.

Zeiss Gemini Technology Advantage vous offre les avantages suivants:

1, le cylindre de miroir calibré a une stabilité à long terme, vous avez juste besoin de régler facilement les paramètres de base, tels que la tension d'accélération, le courant de sonde, etc., lors de l'utilisation quotidienne;

2, conception d'objectif sans fuite magnétique, peut effectuer l'imagerie sans distorsion et à haute résolution de tous les types d'échantillons, y compris les échantillons magnétiques;

Le détecteur d'électrons secondaires inlens a une efficacité d'acquisition de signal SE1 efficace, vous présentant une image topographique réelle de la surface polaire de l'échantillon;

Le détecteur de rétrodiffusion de filtre d'énergie à l'intérieur du cylindre de miroir avec son concept de conception innovant vous permet d'obtenir une image de haute résolution, de haute résistance et plus réaliste de la résistance des matériaux d'échantillon à basse tension.