En tant qu'outil clé dans le domaine de la science des matériaux, la technologie d'éclairage de la microscopie orthométallographique a un impact direct sur la qualité de l'imagerie et l'efficacité analytique. Les principales technologies d'éclairage actuelles comprennent l'éclairage en champ ouvert, l'éclairage en champ sombre, l'éclairage polarisé et l'éclairage à interférence différentielle (DIC), chacun permettant des besoins analytiques spécifiques grâce à une conception de chemin optique unique.

L'éclairage en champ clair est le mode de base de la microscopie orthoscopique, les rayons lumineux convergent à travers le condenseur après avoir illuminé l'échantillon verticalement et la lumière réfléchie forme un champ de vision lumineux à travers l'objectif. Cette technique est adaptée à l'observation d'échantillons métalliques immergés Après polissage et peut présenter clairement les joints de grain, les joints de phase et d'autres structures. Le contrôle de l'angle d'ouverture du faisceau par le diaphragme d'ouverture réglable permet d'optimiser l'équilibre de la résolution avec la profondeur de champ.

L'éclairage en champ sombre permet à la lumière de biaiser l'échantillon à travers un diaphragme annulaire, ne diffusant que la lumière dans l'objectif, créant une image de fond sombre à contraste élevé. Cette technique présente des avantages pour la détection de défauts de surface, de fines Dispersions, par example des inclusions de diamètre inférieur à 1 µm peuvent être clairement observées dans un alliage d'aluminium. Le diaphragme de champ de vision doit être fermé en mode champ sombre pour réduire les interférences lumineuses parasites.

L'éclairage polarisant analyse la composition de phase du matériau en utilisant les propriétés biréfringentes du cristal en insérant un miroir de déviation avec un miroir de contrôle. Dans la recherche sur les matériaux en acier, la technologie de polarisation peut distinguer les phases anisotropes telles que la ferrite, l'austénite et d'autres, en combinaison avec la mesure de rotation angulaire peut calculer quantitativement la proportion de phase.

L'illumination interférentielle différentielle (DIC) divise le faisceau en deux faisceaux de lumière polarisée à travers le prisme d'Ottawa, créant une différence de phase après réflexion sur l'échantillon, formant une image à effet de relief. Cette technique est sensible à la topographie de surface et permet d'identifier des variations de hauteur de pas de l'ordre de 0,1 µm dans la détection de plaquettes semi - conductrices.

Guide d'application:

L'observation de base donne la priorité au mode champ ouvert, associé à l'objectif 5X - 100X pour des observations continues du macro au micro.

La détection des défauts passe en mode champ sombre, améliorant la visibilité des défauts à faible contraste.

L'analyse cristalline permet un dispositif polarisant, combiné à une table porteuse rotative pour compléter la qualification de phase.

La topographie de surface utilise la technologie DIC pour quantifier la rugosité de surface grâce à la fonction de reconstruction 3D.

Remarque lors de l'utilisation réelle: l'étalonnage de l'éclairage Kohler assure l'uniformité du champ de vision; La sélection de filtres, tels que les filtres verts, améliore les contrastes structurels spécifiques; Le nettoyage régulier de l'ensemble du condenseur et du diaphragme maintient les performances du système. Grâce à une combinaison d'éclairage multimodale, la microscopie orthométallographique peut répondre à des besoins diversifiés allant de la recherche fondamentale à l'inspection de la qualité industrielle.