La microscopie orthométallographique est un équipement clé dans le domaine de la science des matériaux pour observer la microstructure des matériaux métalliques et non métalliques, son principe de base est basé sur l'imagerie par réflexion optique et la régulation mécanique de précision, combinée à la technologie photoélectrique moderne pour réaliser des analyses à haute résolution.
Principes fondamentaux
Le microscope à phase aurifère positive est conçu avec un chemin optique réfléchissant, la lumière émise par la source lumineuse illuminant verticalement la surface de l'échantillon après avoir été focalisée par un condenseur. Les matériaux opaques tels que les métaux réfléchissent les rayons lumineux à travers la surface, les rayons lumineux portant des informations de caractéristiques microscopiques telles que la structure du grain, l'interface de phase et d'autres entrent dans l'objectif, après le premier grossissement pour former une image réelle inversée; Cette image réelle est à nouveau agrandie deux fois à l'aide d'un oculaire pour finalement former une image virtuelle nette sur la rétine de l'observateur. Par exemple, le microscope à métallographie orthorhombique d'Olympus atteint une résolution nanométrique grâce à une optique de correction de l'aberration chromatique lointaine et à un objectif achromatique à champ plat à longue distance, ce qui permet d'afficher clairement la taille des grains, la distribution des phases et les caractéristiques des défauts. Son système d'éclairage prend en charge le double mode de transmission et de réflexion, adapté aux différentes caractéristiques de l'échantillon.
Domaines d'application
Analyse de l'Organisation des matériaux: dans l'industrie métallurgique, il est utilisé pour déterminer la composition de phase (ferrite, austénite, etc.), la granulométrie et la distribution des inclusions non métalliques des matériaux métalliques (tels que l'acier, les alliages), évaluer l'effet du traitement thermique. Par exemple, l'observation du tissu martensitique de l'acier trempé au moyen d'un microscope de la série mit300 / 500 permet d'optimiser les paramètres du processus.
Contrôle de qualité: dans la fabrication de semi - conducteurs, détection des défauts de surface de la plaque de silicium, uniformité de l'épaisseur du film mince; Dans l'industrie électronique, l'analyse de la qualité du placage de la carte de circuit imprimé assure les propriétés conductrices.
Analyse de rupture: pour les pièces métalliques cassées, la cause de la rupture est retracée en observant la topographie de la coupure (par exemple, les fossettes, les surfaces de clivage) et le chemin de propagation de la fissure. Par exemple, dans l'analyse de défaillance des matériaux aéronautiques, la microscopie positive peut localiser la source de fissures de fatigue.
Recherche scientifique et éducation: les laboratoires universitaires et universitaires l'utilisent pour mener des recherches fondamentales sur la science des matériaux, telles que l'observation des processus de changement de phase des métaux, la topographie des nanomatériaux et l'aide au développement de nouveaux matériaux.
Avantage technologique
La conception positive facilite le fonctionnement des échantillons de grande taille et, en combinaison avec de nombreux modes d'observation tels que le champ clair, le champ sombre, la polarisation et le DIC (Differential Interference Liner ratio), peut répondre aux besoins d'analyse de structure de surface complexe. Certains modèles intègrent un système d'acquisition d'images qui prend en charge l'enregistrement en temps réel et l'analyse quantitative, améliorant considérablement l'efficacité de la recherche.