Profilomètre de mesure 3D

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Vue d'ensemble

De la recherche et du développement de produits au contrôle de la qualité, le système peut être utilisé pour l'analyse micrométrique de surface et l'évaluation de la qualité de la rugosité sur une large gamme d'échantillons, des surfaces miroirs ultra - lisses aux surfaces rugueuses. Principe d'interférence de la lumière blanche.

Détails du produit

Profilomètre de mesure 3D

La micrométrie de surface tridimensionnelle et l'évaluation de la rugosité sont largement utilisées dans le traitement de précision, le traitement des semi - conducteurs, l'analyse des matériaux et d'autres domaines

avantage

√Résolution longitudinale à l'échelle subnanométrique, adaptée à l'analyse de mesures de surface lisse

√Simple, précis, rapide et reproductible

√Mode de mesure riche prend en charge différents2D / 3DMesurer les besoins

fonction

√Mesure sans contact de la rugosité tridimensionnelle de la surface

√Mesure de structure tridimensionnelle microscopique de surface

√Mesure et analyse de l'épaisseur du film

√Mesure de spectroscopie de réflexion microscopique(Choisir) et

Objets applicables

Composants optiques de précision, Dispositifs micro - Nano - usinés, pièces usinées en métal, wafers, etc.

Principe de mesure

√Principe de micrométrie interférométrique à lumière blanche: avec une source de lumière blanche, la jonction des techniques d'interférence optique incohérente et de microimagerie à haute résolution pour former un microProfil tridimensionnel avec objectif de grossissement de mesure différent, la résolution de mesure longitudinale peut atteindre l'ordre du nanomètre

√Mesure microspectrale: le module Spectral optionnel peut réaliser des fonctions de mesure spectrale de microzone de surface et de mesure d'épaisseur de film

Cas mesurés

三维测量轮廓仪

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