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Shanghai Tuzhe Electronic Equipment Co., Ltd
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Japon ÉLECTRONIQUE JEOL Schottky champ émission balayage miroir it800

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Japanese Electronics JEOL Schottky Field Emission Scanning Electric Mirror it800 $R $N un objectif semi - immergé se réfère à l'existence d'une lentille de champ magnétique intense formée par un champ magnétique de fuite dans la partie inférieure de l'objectif habituel. Les objectifs semi - immergés de JEOL sont capables d'améliorer la capacité de mise au point du faisceau d'électrons pour une résolution ultra - haute. Il est également possible de collecter plus efficacement les électrons secondaires de faible énergie qui sont excités à partir de l'échantillon, améliorant ainsi l'efficacité de détection du détecteur uid.

Détails du produit

Japon ÉLECTRONIQUE JEOL Schottky champ émission balayage miroir it800Introduction du produit:

日本电子JEOL肖特基场发射扫描电镜IT800日本电子JEOL肖特基场发射扫描电镜IT800

Un,Japon ÉLECTRONIQUE JEOL Schottky champ émission balayage miroir it800Capacité d'imagerie haute résolution

Le JSM - it800 utilise un canon à électrons immergé Schottky plus à émission de champ combiné à une lentille de concentration à faible aberration et au système de contrôle optique électronique Neo Engine pour une résolution nanométrique. La résolution de l'image électronique secondaire peut atteindre 0,5 nm à une tension d'accélération de 15 KV, conservant une haute résolution de 0,7 nm même à une basse tension de 1 KV. Cette caractéristique lui confère un avantage important pour l'observation de microstructures telles que les nanomatériaux, les dispositifs semi - conducteurs, etc., permettant par example d'afficher clairement une distribution de particules de catalyseur inférieure à 10 nm.

II. Conception modulaire flexible

Un large choix d'objectifs: cinq modules d'objectifs sont disponibles, dont des objectifs hybrides de type universel (HL), des objectifs super hybrides haute résolution (SHL / SHL) et des objectifs semi - immergés (I / IS) spécialement conçus pour les semi - conducteurs, pour répondre à des besoins d'analyse diversifiés allant des matériaux magnétiques aux isolants.

Système de détection extensible: Équipé d'un nouveau détecteur de rétrodiffusion à scintillateur (sbed) et d'un détecteur de rétrodiffusion multifonctionnel (vbed), le sbed peut toujours capturer des images nettes de contraste de composition à basse tension, tandis que le vbed prend en charge l'acquisition synchrone de topographie 3D avec des informations de composition pour l'Analyse multidimensionnelle d'échantillons complexes.

Iii. Opération intelligente et analyse efficace

Plate - forme de contrôle intégrée: intégration transparente du spectromètre à rayons X à dispersion d'énergie (eds) via l'interface graphique SEM Center, permettant une commutation transparente de l'analyse de composition en temps réel avec l'affichage des images, améliorant ainsi l'efficacité de l'analyse.

Fonction d'assistance ai: introduction du filtre Live - ai pour optimiser la qualité d'image en temps réel, prise en charge de la mise au point rapide et du réglage de l'astigmatisme; Un logiciel optionnel tel que smile Navi offre une navigation opérationnelle pour les débutants, abaissant le seuil d'utilisation.

Régulation automatique: avec des fonctions telles que l'alignement automatique de l'arbre, la mise au point, l'astigmatisme et d'autres, combinées à un moteur à cinq axes pour entraîner la table d'échantillons (prise en charge de la rotation et de l'inclinaison à 360 °), simplifiez les processus d'exploitation complexes.

Iv. Large applicabilité et compatibilité industrielle

JSM - it800 effectue zhuoyue dans la nanotechnologie, les semi - conducteurs, la science des matériaux, la biomédecine, etc. Par exemple, sa lentille super hybride (SHL) permet une analyse efficace des matériaux magnétiques sans commutation de mode; Les objectifs semi - immergés (I / IS) sont quant à eux spécialisés dans l'analyse des défauts de Section des dispositifs semi - conducteurs. En outre, l'appareil prend en charge l'imagerie haute résolution sous de grands flux de faisceaux (tels que 100nA@5kV ), combinée à l'analyse de surface élémentaire à haute vitesse et à la fonction EBSD (diffraction par rétrodiffusion d'électrons), répond aux besoins de détection rapide des contrôles de qualité industriels.