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939 Jinqiao Road, nouveau quartier de Pudong, Shanghai, suite 207
Shanghai Tuzhe Electronic Equipment Co., Ltd
939 Jinqiao Road, nouveau quartier de Pudong, Shanghai, suite 207
Zeiss Zeiss Focus ion beam Mirror série CrossbeamDescription détaillée:

Zeiss Zeiss Focus ion beam Mirror série CrossbeamDécouvrez de nouvelles méthodes d'usinage FIB - de la grande taille à la découpe Nano - précise:
Profitez de l'excellente performance de la cartouche FIB de lon - sculpteur à basse tension pour améliorer la qualité de l'échantillon. La réduction du degré d'amorphisation des échantillons de précision permet d'obtenir d'excellents résultats d'échantillon après amincissement et polissage, tout en ayant l'avantage de Commuter rapidement le flux de faisceau et d'accélérer l'application de la FIB.
Vous pouvez également opter pour une excellente performance de flux de faisceaux volumineux qui double la vitesse d'acquisition pour les applications 3D FIB - SEM. Le processus d'acquisition d'images est très stable pour vous assurer d'obtenir des résultats précis et hautement reproductibles. La conception du barillet permet d'obtenir une gamme de faisceaux de cinq ordres de grandeur, soit de 1 Pa à 100 na. des faisceaux allant jusqu'à 100 na permettent un retrait rapide et précis du matériau et un processus de coupe complet, tandis qu'une résolution FIB élevée inférieure à 3 nm est obtenue avec des faisceaux faibles. En fonctionnement avec un courant d'émission de 2 µa, la durée de vie conventionnelle d'une source de faisceau d'ions focalisés au gallium, c'est - à - dire LMIS (Liquid Metal Ion source), est supérieure à 3000 µah. Grâce à la fonction de chauffage automatique de la source ionique, les produits de la gamme Crossbeam sont en mesure de réaliser des expériences de très longue durée.