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Shanghai Tuzhe Electronic Equipment Co., Ltd
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Zeiss Zeiss Focus ion beam Mirror série Crossbeam

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Vue d'ensemble

Zeiss Focus ion beam Mirror Crossbeam Series que ce soit pour la découpe, l'imagerie ou l'analyse 3D, la gamme Crossbeam améliore considérablement votre expérience d'application. Avec Gemini Electronic Optics, vous pouvez obtenir des informations réelles sur l'échantillon à partir d'images de microscope électronique à balayage (MEB). Le cylindre ion sculptor FIB introduit une toute nouvelle méthode d'usinage FIB capable de réduire les dommages aux échantillons et d'améliorer la qualité des échantillons, accélérant ainsi le processus expérimental.

Détails du produit

Zeiss Zeiss Focus ion beam Mirror série CrossbeamDescription détaillée:

蔡司ZEISS 聚焦离子束电镜Crossbeam系列

Zeiss Zeiss Focus ion beam Mirror série CrossbeamDécouvrez de nouvelles méthodes d'usinage FIB - de la grande taille à la découpe Nano - précise:

Profitez de l'excellente performance de la cartouche FIB de lon - sculpteur à basse tension pour améliorer la qualité de l'échantillon. La réduction du degré d'amorphisation des échantillons de précision permet d'obtenir d'excellents résultats d'échantillon après amincissement et polissage, tout en ayant l'avantage de Commuter rapidement le flux de faisceau et d'accélérer l'application de la FIB.

Vous pouvez également opter pour une excellente performance de flux de faisceaux volumineux qui double la vitesse d'acquisition pour les applications 3D FIB - SEM. Le processus d'acquisition d'images est très stable pour vous assurer d'obtenir des résultats précis et hautement reproductibles. La conception du barillet permet d'obtenir une gamme de faisceaux de cinq ordres de grandeur, soit de 1 Pa à 100 na. des faisceaux allant jusqu'à 100 na permettent un retrait rapide et précis du matériau et un processus de coupe complet, tandis qu'une résolution FIB élevée inférieure à 3 nm est obtenue avec des faisceaux faibles. En fonctionnement avec un courant d'émission de 2 µa, la durée de vie conventionnelle d'une source de faisceau d'ions focalisés au gallium, c'est - à - dire LMIS (Liquid Metal Ion source), est supérieure à 3000 µah. Grâce à la fonction de chauffage automatique de la source ionique, les produits de la gamme Crossbeam sont en mesure de réaliser des expériences de très longue durée.