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Suzhou Jingtong Instruments Co., Ltd
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Oxford instruments cypher es contrôle de l'environnement microscope à force atomique

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Microscope panoramique citation Web Conseil d'amitié: Comme ce produit a subi de nombreuses mises à niveau fonctionnelles et itérations de mise à jour

Détails du produit

Microscope panoramique citation Web conseils d'amitié:

Étant donné que ce produit a subi de nombreuses mises à niveau fonctionnelles et des itérations de mise à jour, nous ne garantissons pas que les informations telles que les images et les paramètres individuels fournis par Oxford instruments cypher es Environmental Control Atomic Force Microscope sont à jour, nous vous recommandons de contacter nos ingénieurs en ligne à votre service en cliquant ici, même si nous vous invitons également à nous contacter par téléphone:- Oui!

Cypher es contrôle de l'environnement microscope à force atomique

Cypher avec une gamme complète de fonctions de contrôle environnemental

Le microscope à force atomique de l'instrument d'Oxford cypher es est basé sur les performances exceptionnelles du cypher s et ajoute un ensemble complet de fonctions de contrôle de l'environnement. Bien que les caractéristiques de la haute résolution, de la vitesse et de la stabilité soient similaires, le cypher es peut être très facile à utiliser, que ce soit dans des environnements gazeux ou liquides, à des températures de 0 à 250 ° C ou dans certains des environnements chimiques les plus agressifs. Capable de répondre aux exigences d'essai les plus exigeantes, le cypher es est l'AFM ultime.

Le contrôle de l'environnement rend l'opération facile
  • Avec les mêmes performances exceptionnelles que le cypher s
  • Perfusion de gaz et de liquides par unité scellée
  • Peut contrôler la température de l'échantillon à 0 - 250 ° C
  • Hautement compatible avec les produits chimiques irritants
  • Aide rapide et détaillée fournie par des scientifiques et des ingénieurs experts

Cypher es contient des modes de fonctionnement

  • Mode de contact
  • DART ™ Modulation de fréquence d'impulsion
  • Mode d'imagerie harmonique haute (Dual AC) ™)
  • Mode piézoélectrique suivi par résonance double fréquence (dart)
  • Technologie de microscopie électrostatique (EFM)
  • Imagerie liquide
  • Mode courbe de force
  • Mode de mappage de force (mode Array de courbes de force)
  • Mode de modulation de force
  • Mode FM
  • Microscope de force de sonde de Kelvin (kpfm)
  • Mode force latérale (LFM)
  • Mode de tangente d'angle de perte
  • Amélioration du mode FM (MFM)
  • MicroAngelo ™ (nanolithographie / Nanomanipulation)
  • Mode d'imagerie de phase
  • Mode de microscopie de force de réponse piézoélectrique (PFM)
  • Commutateur Spectral PFM
  • Mode tap (mode courant alternatif)
  • Mode tap (mode AC) avec contrôleur Q
  • Vecteur PFM

Cypher es contient un module laser

MultiLux ™ Laser Modules

Cypher offers four Laser Modules, one of which is included with initial system purchase. It is possible to add any of the following additional laser modules to enhance the capabilities of the Cypher:

  • Standard Laser Module:RF - modulated laser diode light source module with Digital 10 µm x 30 µm focused Spot Size. Recommandé pour l'imagerie AC - mode (modèle LD - STD)
  • Small Spot Laser Module:RF - modulated laser diode light source module avec numéro 3 µm x 9 µm m focused spot size. Recommended for all AC-mode imaging with small cantilevers. (Model LD-SS)
  • Standard SLD Module:Superluminescent Diode (SLD) source lumineuse avec numéro 10 µm x 30 µm m focused spot size. Recommended for all contact mode and force measurements. (Model SLD-STD)
  • Small Spot SLD Module:Source lumineuse SLD avec numéro 3 µm x 9 µm m focused spot size. Recommended for contact mode and force measurements using small cantilevers. (Model SLD-SS)