Oxford instruments cypher es Polymer Edition microscope à force atomique

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Conseil d'amitié: parce que ce produit a subi de nombreuses mises à niveau fonctionnelles et des itérations de mise à jour, nous ne pouvons garantir que les images et les informations telles que les paramètres individuels fournis par Oxford instruments cypheres Polymer Edition Atomic Force Microscope sont à jour, nous vous recommandons de cliquer ici pour contacter nos ingénieurs en ligne à votre service, et en même temps, nous vous invitons également à nous contacter par téléphone pour des demandes de renseignements:! Cypheres offre des performances inégalées et une large gamme d'utilisations dans le domaine de la recherche et du développement de polymères

Détails du produit

Microscope panoramique citation Web conseils d'amitié:

Étant donné que ce produit a subi de nombreuses mises à niveau fonctionnelles et mises à jour itérations, nous ne garantissons pas que les informations telles que les images et les paramètres individuels fournis par Oxford instruments cypher es Polymer Edition Atomic Force Microscope sont à jour, nous vous recommandons de contacter nos ingénieurs en ligne à votre service en cliquant ici, alors que nous vous invitons également à nous contacter par téléphone pour des demandes de renseignements:- Oui!

Dans le domaine de la recherche et du développement de polymères, le cypher es offre des performances inégalées et un large éventail d'utilisations. L'une de nos configurations les plus populaires est maintenant disponible et la cypher es Polymer Edition bénéficie désormais d'un prix avantageux et d'une livraison rapide.

Cypher es Polymer Edition comprend:

Cypher es contrôle de l'environnement microscope à force atomique

⁃ résolution généralement supérieure à celle des autres microscopes à force atomique ordinaires

- scan rapide pour obtenir les résultats en quelques secondes

Excitation photothermique bluedrive

- simplifie le fonctionnement de tous les modes d'imagerie tactile

- rend le processus d'imagerie plus stable, même en cas de changement de température

- rendre les modes d'imagerie nanomécanique plus quantifiés

Chauffe - échantillons haute température

- possibilité de chauffer l'échantillon jusqu'à 250°c sous atmosphère gazeuse contrôlée

- facile à utiliser, aucun Contrôleur, fil ou tuyau supplémentaire requis

Imagerie par balayage de force rapide

- capture de courbes de force à grande vitesse pour stocker la cartographie du module

- capture toutes les courbes, y compris les écarts et le capteur Z

- prise en charge de nombreux modèles d'indentation, notamment Hertz, DMT, Sneddon et jkr

Mode de cartographie viscoélastique AM FM

- le mode de cartographie nanomécanique le plus rapide (> 20 Hz taux de balayage de ligne)

- mesure quantitative du module de stockage et de l'angle de tangence des pertes

- grande plage de modules de fonctionnement (~ 50 kPa - 300 GPA)

Mode d'imagerie viscoélastique par résonance de contact

- mesure quantitative du module de stockage et de l'angle de tangence des pertes

- convient aux matériaux à haut module (1 GPA - 300 GPA)

Optimisation automatique de l'imagerie getstarted

- Optimisation automatique des paramètres d'imagerie avant le début du scan

- la ligne de balayage de première ligne obtient d'excellentes données sans endommager l'échantillon ou la sonde

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