Table d'étirage in situ de miroir électrique de balayage de Sem sfh5000 - 1200

SEM table d'étirage in situ sfh5000 - 1200Intégration sans modification par bride à vide externe, en contrôlant avec précision la température et le chargement mécanique de l'échantillon, la haute stabilité capture en temps réel le processus micro - dynamique de l'échantillon, l'adaptation complète de Zeiss, Hitachi, semmerfly, Quantum guomichi et autres SEM grand public.

La table d'étirage in situ SEM fonctionne comme un accessoire fonctionnel de miroir électrique à balayage (SEM) (sans modification du corps du miroir), compatible avec le mode EBSD, avec un module de contrôle de la température en option (par exemple, le module ultra haute température 1200 ℃), permettant une étude synchrone de l'évolution de la microstructure du matériau avec la réponse mécanique in situ.

↑ fonction d'implémentation de la table d'étirage in situ

↑ divers types de pinces peuvent être personnalisés

SEM table d'étirage in situ sfh5000 - 1200Caractéristiques:

• plage de température: RT ~ 1200 ℃

• stabilité de la température: ± 0,1 ℃

• plage de force: 0 ~ 5000n

• Précision de traction: 0,1% F.S.

• distance de déplacement: 10mm

• vitesse de traction: ≤ 2mm / min

• Soutien à la personnalisation

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