Paramètres techniques du spectromètre de fluorescence Speck X xepos

Paramètres techniques du spectromètre de fluorescence Speck X xepos

La société allemande Spike Analytical Instruments a mis au point une technique extrêmement réussie pour appliquer des rayons X polarisés à l'analyse de fluorescence. Tout comme les filtres polarisants sont aujourd'hui des outils irremplaçables pour la prise d'images de haute qualité, cette technique d'analyse est devenue un outil irremplaçable pour la détermination en laboratoire des éléments primaires, secondaires et traces. Spike Analytical Instruments continue de faire évoluer cette technologie et lance une nouvelle génération d'instruments, le spectro xepos Desktop Polarized X - ray fluorescence spectro.
Paramètres techniques du spectromètre de fluorescence Speck X xepos

Spectro xepos dispose de composants haute performance à l'intérieur pour une bonne sensibilité et précision. L'utilisation d'une cible secondaire polarisée pour assurer * une bonne excitation, un échangeur automatique d'échantillons 12 bits, un logiciel d'application pré - installé et un module logiciel intelligent font du spectro xepos un véritable analyseur d'éléments polyvalent.

Spectro xepos est livré avec un package d'applications préinstallé comprenant: du matériel et des méthodes d'analyse pré - corrigés en usine. Convient pour l'analyse: sol, boues, additifs dans l'huile, ciment, scories, réfractaires, détection RoHS des composants électroniques, etc.

Le spectromètre de fluorescence X de type xepos peut être largement utilisé dans divers matériaux électroniques et plastiques pour l'analyse d'éléments tels que le plomb, le cadmium, le mercure, etc., la limite inférieure de détection est faible, la sensibilité est élevée et la stabilité est bonne, peut répondre aux directives européennes WEEE et ROHS.