Spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde scientifique

Depuis plus de 40 ans, le système de spectroscopie à fluorescence X dispersive synchrone en longueur d'onde (wdxrf) rigaku simultix est largement utilisé comme outil d'analyse élémentaire pour le contrôle des processus dans les industries nécessitant un débit et une précision élevés, telles que l'acier et le ciment. Près de 1 000 Spectromètres de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde simultix ont été livrés à des clients du monde entier. Au fil des années de progrès technologiques, les exigences des clients sont également devenues * et diversifiées.Spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde scientifiqueSimultix 15 a été spécialement développé pour répondre à ces besoins changeants. Il offre des performances, des fonctionnalités et une convivialité nettement améliorées. Compact et intelligent, simultix 15 est un puissant outil d'analyse élémentaire qui affiche des performances dans de nombreux domaines industriels.

Un spectromètre à fluorescence X dispersif en longueur d'onde est un instrument utilisé pour analyser la composition d'une substance. Il est analysé en utilisant le rayonnement Fluorescent caractéristique résultant de l'interaction des rayons X avec la matière. Voici les points d'introduction de ce spectromètre:

1. Principe de base: en dispersant les rayons X incidents par diffraction à travers un cristal en rayons de différentes longueurs d'onde, puis en utilisant un détecteur pour mesurer l'intensité du rayonnement fluorescent à ces différentes longueurs d'onde. Chaque élément a ses propres longueurs d'onde de rayonnement de fluorescence et la mesure de ces longueurs d'onde permet de déterminer la présence de différents éléments dans l'échantillon et leur teneur relative.

2. Composition de l'instrument: un spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde typique comprend une source de rayons X, un support d'échantillon, un diffracteur cristallin, un détecteur et un système de traitement des données. La source de rayons X produit des rayons X de haute énergie, l'échantillon est placé sur un support pour analyse, un diffracteur à cristal est utilisé pour disperser les rayons X incidents, tandis qu'un détecteur est utilisé pour mesurer l'intensité du rayonnement Fluorescent et transmettre les données à un système de traitement de données pour analyse et interprétation.

3. Applications analytiques:Spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde scientifiqueSimultix 15Il est largement utilisé dans la science des matériaux, la géologie, la surveillance de l'environnement, l'analyse des métaux et d'autres domaines. Il peut déterminer rapidement et de manière non destructive la composition des éléments dans un échantillon, avec une sensibilité élevée et une large plage de mesure.

4. Avantages et limites: avec l'avantage de haute résolution, précision et reproductibilité. Cependant, il peut être limité par des perturbations de fond en termes de détection d'éléments à faible concentration et a une capacité d'analyse relativement faible pour des éléments très légers tels que l'hydrogène et le lithium.

En résumé, le spectromètre à fluorescence X dispersif en longueur d'onde est un outil d'analyse important qui peut être utilisé pour déterminer rapidement et avec précision la composition élémentaire d'une substance et qui joue un rôle dans de nombreux domaines scientifiques et industriels.

XRF pour une analyse élémentaire rapide et précise

Analyser le béryllium (Be) à l'uranium (u) dans presque n'importe quelle matrice d'échantillon. Les indicateurs les plus importants pour le contrôle automatisé des processus sont la précision, la précision et le débit d'échantillon. Avec jusqu'à 30 (et 40 en option) canaux élémentaires discrets et optimisés et une puissance de tube à rayons X de 4 kW (ou 3 kW en option), la vitesse et la sensibilité d'analyse sont disponibles. Combiné avec un logiciel puissant mais facile à utiliser, avec une large gamme de fonctions de simplification des données et des fonctions de maintenance, cet instrument est un outil de métrologie analytique élémentaire.

Analyse élémentaire XRF automatisée

Pour les applications à haut débit, l'automatisation est une exigence essentielle. Peut être équipé d'un échantillonneur automatique 48 positions (ASC). Pour une automatisation complète, l'unité de chargement d'échantillons en option fournit une alimentation en bande transporteuse droite ou gauche à partir d'un système d'automatisation de préparation d'échantillons tiers.

Analyse élémentaire par synchronisation wdxrf

Caractéristiques

Multicouches synthétiques, RX-SERIES

Le nouveau cristal multicouche synthétique "rx85" produit une intensité d'environ 30% supérieure à celle des cristaux multicouches be - KA et B - ka existants.

Le canal XRD

Le simultix 15 est équipé d'un canal XRD et peut être analysé quantitativement via XRF et XRD.

Cristal hyperbolique

Un cristal hyperbolique optionnel peut être équipé d'un canal fixe. La Force des cristaux hyperboloïdes est augmentée par rapport aux cristaux monoboloïdes.

Logiciel amélioré facile à utiliser

Le logiciel simultix 15 utilise la même barre de processus d'analyse quantitative que le logiciel zsx, ce qui améliore l'opérabilité de la configuration des conditions quantitatives.

Goniomètres à balayage lourds et légers

Le goniomètre à large plage d'éléments en option prend en charge la semi - Quantification (FP) sans étalon et peut être utilisé pour la détermination qualitative ou quantitative d'éléments non conventionnels.

Mesure BG des oligo - éléments

Mesure de fond optionnelle (BG) pour les canaux fixes, améliorant ainsi la précision de l'ajustement de l'étalonnage et.

Contrôle automatique de pression (APC)

Le système APC en option maintient un vide constant dans la Chambre optique pour améliorer considérablement la précision de l'analyse des éléments légers.

Méthode quantitative du ratio de diffusion

Lorsque l'analyse des minerais et des concentrés est effectuée à l'aide de la méthode du ratio de diffusion Compton, la méthode du ratio de diffusion quantitative facultative génère un Alpha théorique pour l'étalonnage du ratio de diffusion.

Jusqu'à 40 canaux fixes

Configuration standard de 30 canaux fixes avec possibilité de mise à niveau vers 40 canaux.

Automatisation

Un dispositif de chargement d'échantillon en option fournit une alimentation en bande transporteuse à partir d'un système automatisé de préparation d'échantillons tiers.