XRD / diffractomètre à rayons X / table thermique ultra haute température étirée in situ xh1200

Dispositif in situ spécialement conçu pour l'analyseur de diffraction des rayons X, contrôle précis de la réponse en temps réel du matériau dans des conditions de couplage Multi - Champs telles que la température changeante, la charge mécanique et d'autres, peut être adapté avec précision à l'équipement principal XRD de bruker, symerfly, science, Shimadzu et autres.

Fruit instrument xh1200:La plage de température RT ~ 1200 ° C, la stabilité de la température du sol 0,1 ° C, peut atteindre le point, la pente, le contrôle de la température de précision multimode du segment de programme.

Réflexion / transmission de la table porteuse optionnelle; Conception de fenêtre en arc de cercle, angle de diffraction 2θ: ∠ 0° ~ ∠ 164°, avec Membrane kapton comme fenêtre;

Support personnalisable pour s'adapter à divers modèles de diffractomètres à rayons X, tels que science, bruker, semmerfly, Shimadzu, panako, etc.

XRD table chaude et froide xh1200Caractéristiques:

• plage de température: - 190 ℃ ~ 600 ℃

• stabilité de la température: ± 0,1 ℃

• angle de diffraction 2θ: ∠ 0° ~ ∠ 164°

• matériau de la fenêtre: kapton Membrane

• Chambre d'atmosphère, peut améliorer le vide

• couvercle supérieur remplaçable pour une utilisation en tant que table chaude et froide normale

XRD table chaude et froide xh1200paramètrePour: