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Adresse
Pièce 2802, bâtiment T4, bâtiment central de 胤xuan, district de Baoan, Shenzhen
Catégories de produits
Wechsler Nanosystems GmbH, Germany
2600 - PCT - XB paramètre courbe Tracker configuration
NégociableMise à jour sur05/06
- Modèle
- Nature du fabricant
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Vue d'ensemble
La configuration du Tracker de courbe paramétrique 2600 - PCT - XB nécessite une caractérisation complète au niveau du dispositif, y compris la mesure de paramètres tels que la tension de claquage, le courant passant et la capacité, lorsqu'elle est utilisée pour la recherche, le développement et l'utilisation de MOSFET, IGBT, diodes et autres dispositifs haute puissance. La gamme de configurations de suivi de courbe de paramètre haute puissance de keithley prend en charge les besoins de caractérisation de tous les types de dispositifs et de tous les types de paramètres de test.
Détails du produit
La recherche, le développement et l'utilisation de MOSFET, IGBT, diodes et autres dispositifs de haute puissance nécessitent une caractérisation complète au niveau du dispositif, y compris des mesures de paramètres tels que la tension de claquage, le courant passant et la capacité. La gamme de configurations de suivi de courbe de paramètre haute puissance de keithley prend en charge les besoins de caractérisation de tous les types de dispositifs et de tous les types de paramètres de test.
La configuration de suivi de courbe paramétrique de geschli contient tout le matériel nécessaire dont les ingénieurs de caractérisation ont besoin pour construire rapidement un système de test complet. Le logiciel ACS Foundation Edition, qui doit être commandé séparément, permet une caractérisation complète des dispositifs, y compris un mode de suivi en temps réel pour la détection rapide des paramètres de base du dispositif, tels que la tension de claquage, et un mode entièrement paramétrique pour l'extraction de paramètres de dispositif précis.
Le logiciel ACS Foundation Edition va au - delà des limites d'interface des Trackers de courbes traditionnels et offre une riche bibliothèque d'exemples. Plus important encore, les utilisateurs peuvent contrôler toutes les ressources de test, créant ainsi des tests plus avancés que ce que les Trackers de courbes précédents pouvaient réaliser.
Caractéristiques principales
・la solution complète est professionnellement conçue pour atteindre le rapport qualité - prix
・prise en charge de la mise à niveau et de la reconfiguration sur site pour convertir un traceur de courbe paramétrique (PCT) en un appareil de test de fiabilité ou un testeur de tri de plaquettes
・plage de puissance configurable:
– tension: 200V à 3Kv
– courant: 1a à 100A
・large plage dynamique:
– tension: du microvolt (µv) au kilovolt (kV)
– courant: de feian (fa) à 100A
・capacités complètes de test de capacité - tension (C - V):
– capacitif: de la méthode de vol (ff) à la microméthode (µF)
– prend en charge les dispositifs à 2, 3 et 4 bornes
– polarisation DC jusqu’à 3Kv
・haute Performance Test Clamp, prend en charge de nombreux types d'emballage
・l'interface de la table de sonde est compatible avec la plupart des types de sonde, y compris le triaxial haute pression (Hv Triax), le coaxial haute pression (SHV Coax), le triaxial standard et d'autres types
La configuration de suivi de courbe paramétrique de girelli est un outil de caractérisation complet qui contient les éléments clés nécessaires à la caractérisation des dispositifs de puissance. Canal de mesure par geschli sourcemeter ® Composition de l'instrument source Measurement Unit (smu) et, en option, de l'instrument capacité - tension multifréquence (C - V). La plage dynamique et la précision de ces instruments vont bien au - delà des Trackers de courbes traditionnels.
Accessoires système complets
Capacité haute tension – tension (C - V)
La variation de la capacité des dispositifs de test en fonction de la tension continue devient de plus en plus importante. Geschli propose des condensateurs - voltmètres multifréquences PCT - cvu. Lorsqu'il est utilisé en combinaison avec un connecteur t polarisé 200V ou 3Kv en option, la mesure Capacitive - tension peut être effectuée sur des dispositifs à deux, trois ou quatre extrémités. Les capacités mesurables vont de la méthode de vol (ff) à 100 nanométhodes (nf) avec des fréquences de test de 10 kHz à 2 MHz. Le logiciel ACS Foundation Edition offre plus de 60 tests de capacité - tension prédéfinis, y compris la capacité d'entrée (CISS), la capacité de sortie (coss), la capacité de transfert inverse (CRSS), la capacité de drain de grille (CGD), la capacité de source de grille (CGS), la capacité de source de drain (CDS) pour MOSFET, ainsi qu'un ensemble complet de tests pour d'autres dispositifs tels que les transistors à jonction bipolaire (BJT), les diodes et plus encore. Comme toujours, les utilisateurs peuvent développer de manière autonome des algorithmes de test exclusifs dans ACS Foundation Edition.
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